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LJD-E 高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
添加時(shí)間:2024-09-27 11:53:21
LJD-E 高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

基本測(cè)量準(zhǔn)確度:0.05%

等效電路:串聯(lián), 并聯(lián)

顯示器:6位分辨率,800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD顯示器

測(cè)試頻率:20 Hz1MHz,10mHz分辨率

測(cè)試信號(hào)電頻:正常5 mV2V時(shí)    準(zhǔn)確度:10%,。恒電平時(shí)10 mV1 V 準(zhǔn)確度:5%,都為1 mV步進(jìn)

測(cè)試范圍:

|Z|, R, X

0.01m Ω — 99.9999 MΩ

DCR

1 mΩ — 99.9999 MΩ

|Y|, G, B

0.00001μS 99.9999 S

C

0.00001 pF 9.9999 F

L

0.00001 μH 9999.99 H

D

0.00001 9.9999

Q

0.00001 9999.9

接口

RS-232C, HANDLER, GPIB (選件),LAN(選件),USBTMC,USBCDC


配上專用電極(另購)可以測(cè)試絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗,


LJD-E 頻率20Hz~1MHz (20HZ-5MHz可選)